X射線衍射儀（XRD）
發布時間:2022-03-14 19:28:37 發布人: 沐鸣
●參數指標🔘：
儀器型號🔔：德國布魯克D8-Advance
最小步長🧓：0.0001°；
角度重現性:：0.0001°🦅；
最大掃描度4️⃣：1500°/min；
測量範圍：-10°≤2θ≤155°；
●技術特點：
通過TWIN-TWIN光路設計😮💨，能實現BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析🪶、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，無需對光🪛。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構👨⚕️、應力、微區）的切換🫁。
測角儀可以保證在全譜範圍內的每一個衍射峰的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度。林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，有較高的使用效率和探測靈敏度。
●應用範圍🥔：
X射線衍射儀廣泛應用於材料學🟦、物理學、化學、地質💉、環境🚶🏻♀️、納米材料、生物等領域，能分析晶體材料諸如產業廢棄物🧫、礦物、催化劑、功能材料等的相組成5️⃣，大部分晶體物質的定量、半定量分析🪒；晶體物質晶粒大小的計算；晶體物質結晶度的計算等𓀎🥌。
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